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HS PA30-S 超聲波相控陣檢測(cè)儀

HS PA30-S 超聲波相控陣檢測(cè)儀是一款集多種功能于一體的相控陣檢測(cè)儀

，主要應(yīng)用于螺栓裂紋及緊固應(yīng)力的快速檢測(cè)。
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產(chǎn)品概述
這款設(shè)備多用于螺栓裂紋及緊固應(yīng)力檢測(cè)，能夠?qū)Χ喾N不同的加工工藝及結(jié)構(gòu)形態(tài)內(nèi)部的缺陷（裂紋

、夾雜

、疏松、氣孔等）進(jìn)行檢測(cè)

、定位

、評(píng)估和診斷。
功能特點(diǎn)●多能一體

，小體積兼容螺栓…

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產(chǎn)品介紹152

產(chǎn)品概述

這款設(shè)備多用于螺栓裂紋及緊固應(yīng)力檢測(cè)

，能夠?qū)Χ喾N不同的加工工藝及結(jié)構(gòu)形態(tài)內(nèi)部的缺陷（裂紋、夾雜

、疏松

、氣孔等）進(jìn)行檢測(cè)、定位

、評(píng)估和診斷

。

功能特點(diǎn)

●多能一體，小體積兼容螺栓裂紋檢測(cè)

、螺栓預(yù)緊力檢測(cè)

、TOFD檢測(cè)及A超檢測(cè)功能。

●A

、C

、L、3D多視圖角度顯示檢測(cè)結(jié)果

，判斷缺陷更簡(jiǎn)單

。

●檢測(cè)界面數(shù)據(jù)可視化，輔以智能化一鍵波形搜索

，檢測(cè)速度更快

。

●采用聲速差與標(biāo)準(zhǔn)模型的對(duì)比算法，螺栓預(yù)緊力結(jié)果更精確

，精度至高可達(dá)0.3ns

。

●儀器檢測(cè)簡(jiǎn)單，相控陣晶片自動(dòng)校準(zhǔn)

，探頭直接放置在螺栓端頭處即可直接讀數(shù)

。

●超聲波設(shè)備小巧、便攜

、節(jié)能

，依靠便攜式的小容量電源就能長(zhǎng)時(shí)待機(jī)工作

，利于現(xiàn)場(chǎng)高空作業(yè)。

技術(shù)參數(shù)

參數(shù)分類	參數(shù)選項(xiàng)	相控陣通道	常規(guī)通道
PA/UT配置脈沖發(fā)生器	激勵(lì)脈沖電壓	50V-100V	200V-350V
	脈沖形式	負(fù)方波	負(fù)方波
	發(fā)射脈沖寬度	30ns-500ns可調(diào)	30ns-500ns可調(diào)
	脈沖上升時(shí)間	＜8ns	＜15ns
	發(fā)射脈沖重復(fù)頻率	10KHz可調(diào)	1KHz可調(diào)
	延遲	0-20us/2.5ns	0-655us/10ns
	發(fā)射阻抗	/	500/50Ω

接收器數(shù)據(jù)采集	采樣率	100MHz/10bit	125MHz/8bit（TOFD ，A超）1000MHz/8bit（螺栓應(yīng)力）
	最大A掃深度	8192	2048
	聚焦模式	常規(guī)/動(dòng)態(tài)/全范圍	/
	聚焦類型	深度/聲程/水平	/
	檢波	射頻、正檢、負(fù)檢、全檢	射頻、正檢、負(fù)檢、全檢

掃描與顯示	掃描類型	扇掃/線掃/復(fù)合掃	/
掃描與顯示	顯示模式	A/B/C/L/S/3D	A/B/C
可編程TCG	點(diǎn)的數(shù)量	32個(gè)	/
	最大增益量	40dB,步距0.1dB	/
	最大增益斜率	40dB/us	/
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)	256GB

顯示器	尺寸	8.4''
	分辨率	1024×768
	觸摸屏類型	電容式觸摸屏
I/O接口	USB	USB3.0/ USB2.0
	以太網(wǎng)	1000Mb/s（USB轉(zhuǎn)換器）
	視頻輸出	HDMI
	編碼器	ODU-7PIN雙路編碼器
語(yǔ)言	中文/英文

電源整機(jī)尺寸	直流供電電壓	DC24V
	電池	11.1V-13AH
	連續(xù)工作時(shí)間	≥4小時(shí)
	280×210×80（mm）
整機(jī)重量	3.5Kg（含電池）
工作溫度	(0-40)℃（參考值）
存放溫度	(-10-40)℃（參考值）

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